Holzapfel B., Schultz L., Apetrii C.(c.apetrii@ifw-dresden.de), Schlorb H., Falter M., Lampe I.(lamp0634@mailbox.tu-berlin.de)
Matias V., Jia Q.X., Wang H., Holesinger T.G., Ayala A.(ayala@lanl.gov), Clem P.G.(pgclem@sandia.gov), Foltyn S., Gibbons B.
Ключевые слова: HTS, PLD process, substrate SrTiO3, coated conductors, films epitaxial, microstructure, Jc/B curves, critical caracteristics, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOCVD process, substrate SrTiO3, substrate stainless steel, IBAD process, microstructure, fabrication
Goto T., Teranishi R., Fuji H., Kaneko A., Murata K., Aoki Y., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Matsuda J.(jmatsuda@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Barnes P.N., Haugan T.J., Wu J.Z., Emergo R.L.(remergo@ku.edu)
Goyal A., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P., Cantoni C., Gapud A.A., Kim K.(kkim@mse.ufl.edu), Norton D.P.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, PLD process, substrate SrTiO3, texture, resistivity, temperature dependence, fabrication
Evetts J.E., Kursumovic A.(ak237@cus.cam.ac.uk), Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Civale L., Maiorov B.
Kim H.-J., Kim C.-J., Jun B.-H.(bhjun@kaeri.re.kr), Choi J.-K.
Sueyoshi T.(tetsu@eecs.kumamoto-u.ac.jp), Inada S., Fujiyoshi T., Miyahara K., Ikegami T., Ebihara K., Miyagawa R., Chimi Y., Ishikawa N.
Verdyan A.(verdyan@hait.ac.il), Soifer Y.M., Azoulay J., Rabkin E.(erabkin@technion.ac.il), Kazakevich M.(mkaz@technion.ac.il)
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, mechanical properties, hardness, nanoscaled effects, crack formation, substrate SrTiO3, experimental results
Arendt P.N., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Coulter J.Y., Maiorov B., Serquis A., Willis J.O., Maley M.P., Civale L.(lcivale@lanl.gov)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate SrTiO3, electron beam evaporation, microstructure, phase formation, experimental results, fabrication
Sievers S., Freyhardt H.C., Jooss Ch., Guth K., Born V.(vborn@ump.gwdg.de), Hoffmann J., Thiele Ch.
Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.